MMS-ZFA 2010测量显微镜是我司独立开发的，是具有裂像功能的一款新型显微镜。其以影像法测量原理为基础，采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低差测量。除了观察测量点的表面状态外，还能对高度、深度、高低差等进行精密测量。本仪器还具有明暗场，偏光的观察功能，所以特别适合对极细微的间隙高低差、夹杂物、突起、细微划痕进行观察。
Soptop MS 测量显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力，和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能，具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。