IE200M地质矿物分析精密工程测量显微镜

操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。

高精度粗微动调焦机构

采用底手位粗微调同轴调焦机构，左右侧均可调节，微调精度高，手动调节简单方便，用户能够轻松得到清晰舒适的图像。粗调行程为38mm，微调精度0.002。

大尺寸机械移动平台

采用180×155mm的大尺寸平台，右手位设置，符合常规人群操作习惯。用户操作过程中，便于调焦机构与平台移动的操作切换，为用户提供更加高效的工作环境。

落射柯拉照明系统

采用180×155mm的大尺寸平台，右手位设置，符合常规人群操作习惯。用户操作过程中，便于调焦机构与平台移动的操作切换，为用户提供更加高效的工作环境。