MX8R微分干涉工业检测显微镜

产品简介：

MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，配备了高性能DIC组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来，广泛用于LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕检测等领域

产品性能特点：

1. 具有明场，暗场，偏光，DIC 观察功能
2. 采用8英寸大平台设计，可适用于相应尺寸的晶圆或FPD检测，电路封装，电路基板，材料，铸件金属陶瓷部件，精密模具的检测。