MS系列半导体/PCB/LCD检测测量显微镜
Soptop MS 测量显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力，和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能，具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。
Soptop MS 测量显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力，和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能，具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。
卓越的光学技术呈现出色成像
Soptop MS 测量显微镜采用优异的无限远光学系统搭配半复消色差物镜，提高了成像衬度和清晰度，用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像。只需简单操作即可实现明暗场，偏光，微分干涉等多种成像方式。
人体工学设计实现舒适操作性
人体的舒适度在很大程度上主导了工作的进展、效率、完成度。Soptop 努力让工具尽量适合人体的自然形态，这样在使用工具的过程中，人的身体无需主动适应，从而减少使用工具造成的疲劳。欢迎体验 Soptop 的舒适操作。
精密的测量工具保证结果的准确性
测量工具的严谨恰好体现了品牌的品质。随着现代制造技术日益小型化和精密化，高精度测量也日趋重要。Soptop MS 测量显微镜采用 0.1μm 读数的3 轴测量系统，利用 X、Y 轴高精度光栅尺可进行水平方向测量，电动 Z 轴调焦可操作性强，降低疲劳。
独立裂像光源辅助对焦
独立的裂像光源控制器，可根据样品不同背景进行光源亮度调节，清晰准确显示Zui佳焦面。有两种裂像图案可供选择，并随意切换。
自主研发测量软件
MS 测量显微镜配备了操作简单，功能强大的测量软件，客户可根据需要设置测试偏好。即使对复杂的形状，也可以进行高精度的测量。
应用实例
技术参数
光学系统 | 无限远光学系统 |
观察头 | 30°倾斜，正像，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节 :50-76mm，两档分光比 100/0 或 0/100 |
| 5° ~35°倾斜，正像，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节 ：50-76mm，两档分光比 ：100/0 或 0/100 | |
| 30°倾斜，倒像，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节 :50-76mm，两档分光比 ：100/0 或 50/50 | |
目镜 | 高眼点大视野平场目镜 PL10X/22mm，可带测微尺 |
| 高眼点大视野平场目镜 PL10X/22mm，视度可调，可带测微尺 | |
转换器 | 内定位 5 孔转换器 |
| 内定位明暗场 5 孔转换器 | |
物镜 | 无限远长工作距平场消色差金相 DIC 物镜（5X、10X） |
| 无限远超长工作距平场半复消金相 DIC 物镜（20X） | |
| 无限远长工作距平场消色差金相物镜（50X、100X） | |
| 无限远长工作距平场明暗场消色差金相物镜（5X、10X） | |
| 无限远超长工作距平场明暗场半复消金相 DIC 物镜（20X） | |
| 无限远长工作距明暗场半复消金相物镜（50X、100X） | |
放大倍率 | 光学放大倍率 ：50X-1000X |
| 系统放大倍率 ：135X-2700X | |
测量显微镜主体 | 手动测量平台（行程 200mm(X)×100(Y)mm，带数显器，带电动调焦控制盒；样品高度 175mm；测量精度，X 和 Y ：（2+L/200)μm，L 为测量长度（单位 mm） Z:（3+L/200)μm |
| 手动测量平台（行程 300mm(X)×200(Y)mm，带数显器，带电动调焦控制盒；样品高度 175mm；测量精度，X 和 Y ：（2+L/200)μm，L 为测量长度（单位 mm） Z:（3+L/200)μm | |
照明系统 | 明暗场反射照明器，带明暗场照明切换装置 ；带滤色片插槽与偏光装置插槽，带 5WLED 灯源，亮度可调（含托架适配器） |
| 辅助对焦模块，带对焦分划板两档，带绿光 5WLED 灯源组（含 100V-240V 宽电压，5WLED 控制器） | |
调焦方式 | 电动手轮控制调节，调焦距离 175mm |
相机 | 像素 130 万 ；1280(H)×1024(V) ；帧率 ：30fps ；接口 ：USB2.0 ；图像传感器 ：CMOS（彩色） |
摄影摄像接口 | 0.65XCTV、C 型接口、可调焦 |
| 0.5XCTV、C 型接口、可调焦 | |
PC | 联想（ThinkCentre）一体机 |
| 软件 | 精密测量软件 |
| 其他附件 | 起偏镜插板，360°旋转式检偏镜插板 ；反射用干涉滤色片组 ；高精度测微尺 ；DIC 组件 ；标定片 |